2016年3月4日、IEEE(米国電気電子学会)はAltmetric社と提携し、同学会の電子ジャーナルプラットフォームIEEE Xplore上でAltmetricスコア等を閲覧できるようにしたことを発表しました。
IEEE Adds Altmetric Badges to IEEE Xplore® Digital Library to Enable Authors and Editors to Track Online Attention for Research Articles(IEEE、2016/3/4付け)
https://www.ieee.org/about/news/2016/4march_2016.html
参考:
ディスカバリサービスSummon上でAltmetricスコアが閲覧可能に
Posted 2016年2月16日
http://current.ndl.go.jp/node/30757
Wiley社、Altmetricを全ジャーナルに導入
Posted 2014年7月9日
http://current.ndl.go.jp/node/26531